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大型精密仪器简doc
时间:2023-08-13 10:55 点击次数:110

  精密分析仪器简介 扫描电子显微镜—能谱仪仪器型号:SEM EDS:IE 300 X 生产厂家:SEM日本JEOLEDS:英国Oxford 主要配置: ????SEM:二次电子探测器背散射电子探测器EDS:X射线探测器数字脉冲处理器主要技术指标: SEM:高线.nm,低线.nm; SEM: 放大倍数范围-300,000; EDS:优于132eV可测元素范围4Be-92U: 表面微形貌断口及内部微表面微区成分的定性和半定量分析电子显微镜仪器型号:生产厂家:日本主要配置: ????探测器主要技术指标: 分辨率:可倾动角±25°时,晶格分辨0.204 nm,点间距0.45 nm放大倍数:电子图象:100 6×105(30档可调)选区图象:1003×105(25档可调)加速电压:200 V、175V、150V、100V、75V。: 金属材料的晶体缺陷、晶界、相界染色体、核糖体、蛋白质、血红蛋白、细菌等观察扫描探针显微镜仪器型号:NanoScope 生产厂家:美国Veeco 主要配置: ????接触模式、轻敲模式力模式、、扫描隧道模式、配有液体池,可用于液体环境的样品控温范围:室温~0℃。 最大垂直扫描范围:2.5 μm; 最高水平分辨率:0.1 nm; 最高垂直分辨率:0.01 nm。 主要:;X射线衍射仪仪器型号: 生产厂家:日本RIGAKU 主要配置: ????铜靶自动可变狭缝系统,全自动弯(平)晶石墨单色仪;JADE软件包(物相定性分析,晶粒大小和晶胞畸变的测定,结晶度测定,点阵参数精密化等)主要技术指标: 主要: 物相定性定量分析;的;结晶度测定(多峰分离法);材料。仪器型号:生产厂家: 主要配置: 10-4-30Hz; 应变振幅5μrad-500mrad; 扭矩范围0.2μN.m-100mN.m; 法向力测量0.01-20N。 主要:;;仪器型号:BI-200SM生产厂家:Brookhaven 主要配置: 108 Daltons; 胶体粒子水动力学直径(DH)测量范围:1~5000nm; 聚合物均方根旋转半径(Rg)测量范围:10~1000nm; 测量主要:;;仪器型号:生产厂家:Brookhaven 主要配置: Styragel系列色谱柱,多角度光散射仪,CCD检测器。 主要技术指标: 流动相(四氢呋喃)流速范围:0.001-10.000ml/mim; 聚合物重均分子量(Mw)测量范围: 500~108 Daltons; 聚合物均方根旋转半径(Rg)测量范围:10~1000nm; 测量主要:核磁共振波谱仪仪器型号:Avance 400 生产厂家:Bruker 主要配置: Φ5mmΦ5mm1 H/13C反相探头,固体探头及其附件,PFG Accessory梯度场附件变温9.4T, 对1 H共振频率为400MHz; 多核探头(31 P-15 N,19F1 H 分辨率:0.32Hz,1 H灵敏度:366∶1; 反相探头(1 H优化): 1 H 分辨率:0.42Hz,1 H灵敏度:611∶1。 固体宽带探头:13C分辨率3.7Hz,13C灵敏度:49∶1; 主要:有机化合物分析;高分子;仪器型号: 生产厂家: 主要配置: 衰减全反射光谱(ATR)反射吸收光谱(RA)变温附件?温度范围室温400℃),偏振附件;Hummel Polymer and Additives 谱库。 主要技术指标: 红外光谱频率范围:7400~350cm-1; 拉曼光谱频率范围:3600~100cm-1; 红外光谱最高分辨率:0.09cm-1; 拉曼光谱最高分辨率:0.8 cm-1。 主要:;结构分析;仪器型号: 生产厂家: 主要配置: NIST 谱库,热裂解谱库EI源1pg八氟萘S/N≥60; 裂解温度范围:350-750℃。 主要:;结构分析;仪器型号:L35 生产厂家: 主要配置: Φmm积分球固定角反射附件可变角透射附件固体样品架范围:0 ~ 100 ,控温精度:± 0.1 0.01 % T 线A。 主要:;;仪器型号:生产厂家: 主要配置: 0.005nm(As在200nm处); 精密度(RSD)(n=10): 1.0%; 检出限(典型元素As、Cd、Cu、Zn): 0.01mg/L 主要:仪器型号:Ⅲ 生产厂家: 主要配置: 高温燃烧炉,吸附-解吸装置,检测器mg的电子天平主要:C、H、N、O、S辉光光谱仪仪器型号:JY Profiler生产厂家: 主要配置: 镀层涂层—620nm; 光谱分辨率:0.02nm; 深度分辨率:≤2nm; 可分析的元素:C、Cr、Mn、Si、Mo、Fe、B、S、P、Ni、Ti、W、Co、V、Al、H、O、N、Cl、Cu、Pb、Sn、Mg。 主要:导电材料非导材料的基体、镀层(涂层)中的化学元素含量分析;热处理工件(渗碳、渗氮)等的元素深度定量分析导电材料表面覆盖有一层或多层导电或不导电镀层(涂层)中化学元素的分析;非导体材料表面覆盖有一层或多层导电或不导电镀层(涂层)中化学元素的分析 1

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