精密分析仪器简介 1 扫描电子显微镜—能谱仪（SEM－EDS） 仪器型号：SEM：JSM－5600LV； EDS：IE 300 X 生产厂家：SEM：日本 JEOL；EDS：英国 Oxford 主要配置： SEM：二次电子探测器，背散射电子探测器；EDS：Si(Li)超薄窗；X 射线探测器，全数字化脉冲处理器；喷金仪，喷碳仪。 主要技术指标：  SEM：高线nm，低线nm;  SEM: 放大倍数范围 18-300,000；  EDS：Mn 的 K α 处的分辨率优于 132eV；可测元素范围4 Be- 92 U。 主要用途：  固体样品表面微区形貌观察；  材料断口形貌及其内部结构分析；  微粒或纤维形状观察及其尺寸分析；  固体样品表面微区成分的定性和半定量分析。 ...

　　精密分析仪器简介 1 扫描电子显微镜能谱仪（SEM－EDS） 仪器型号：SEM：JSM－5600LV； EDS：IE 300 X 生产厂家：SEM：日本 JEOL；EDS：英国 Oxford 主要配置： SEM：二次电子探测器，背散射电子探测器；EDS：Si(Li)超薄窗；X 射线探测器，全数字化脉冲处理器；喷金仪，喷碳仪。 主要技术指标：  SEM：高线nm，低线nm;  SEM: 放大倍数范围 18-300,000；  EDS：Mn 的 K 处的分辨率优于 132eV；可测元素范围4 Be- 92 U。 主要用途：  固体样品表面微区形貌观察；  材料断口形貌及其内部结构分析；  微粒或纤维形状观察及其尺寸分析；  固体样品表面微区成分的定性和半定量分析。