当您的学术论文或课题研究需要样品的粗糙度、台阶、三维形貌比对、轮廓分析、高度、平面度、平行度、翘曲量、液位高度、平面尺寸、PV值、膜厚等需要高精仪器测量的数据时，是否遇到以下困难：

　　自品牌开创以来，优可测一直秉承着“用心检测”的理念，乐于协助高校和研究院学子、老师的学术研究，助力各学科发展以及技术创新。

　　在此，优可测全新推出《高校/研究院学子免费检测计划》，每月有10个免费检测名额，可为高校和研究院的学子免费检测。只要您是高校/研究院的学生或老师，您遇到学术论文或课题研究中的检测难题，可向优可测寻求帮助！优可测在详细了解需求后可为您提供最佳的检测服务。

　　此外，优可测也经常收到一些高校、研究院的检测需求，以下是部分案例的分享，希望能对各高校、研究院学生和老师以及相关行业人士有所参考和帮助。

　　某科学院院士希望测量晶圆微结构形貌，用于学术研究。优可测工程师详细了解需求与检测环境后，使用白光干涉仪AM-7000系列进行检测：

　　碳化硅晶体因其优异的物理、化学、光学性能，被高温高能的物理环境所应用。某高校材料与能源学院学生希望测量碳化硅晶体平面度，用于课题研究。优可测工程师详细了解需求后，使用白光干涉仪AM-7000系列进行检测：

　　华南某高校近日遇到检测难题，希望能检测超光滑镜面透镜的面型、粗糙度以及缺陷分析，测试了很多设备，检测效果都不太好。优可测工程师详细了解需求后，使用白光干涉仪AM-7000系列进行检测：

　　某高校学生寄送的样品，希望能检测硅片表面镀的金属镍膜，用于课题研究，厚度仅几纳米！工程师得知客户需求后，使用薄膜厚度测量AF-3000系列为客户做检测，得出检测如下：

　　检测结果得出Ni膜膜厚为2.8nm，匹配度达0.009081！即使几纳米的金属膜已经非常薄了，但这还不是优可测的测量极限！优可测的薄膜厚度测量仪拥有超高分辨率1Å，精度达0.1nm，也就是说，就算薄膜厚度只有1nm，我们的仪器同样可以精确测量！

　　“没想到优可测在薄膜厚度测量领域的造诣如此之高，测量结果如此精确，这对我们的研究有很大的帮助，非常感谢优可测工程师的专业性和及时性。”客户收到检测报告后，对优可测薄膜厚度测量仪称赞连连。

　　随着微纳光子技术的不断发展，一种半导体材料——磷化铟（InP）材料被用于制造具复杂功能的光子集成电路。某院校老师希望能够测量InP材料的光栅，以此协助InP材料学术研究的完成。优可测工程师使用衍射三维形貌仪NM-300进行检测：

　　从检测结果可知，占空比为0.4，深度为0.365。衍射三维形貌仪NM-300的原理是通过光学正向建模算法得到的仿真光学参数， 与实际测量的光学参数进行比对 ；利用LM算法、库匹配、神经网络算法， 提取出样品光栅的占空比、厚度与侧壁角等结构参数。

　　优可测可为您解决厚度/平面度/3d轮廓/段差/位置度/共面度/缺陷瑕疵/翘曲等精密测量项目，精度覆盖到微米、纳米甚至亚纳米级！

　　参与方式一：长按图片扫描，填写问卷信息提交，我们会安排专业的工程师与您联系！

　　优可测致力为半导体、精密光学、新能源、3C消费类电子、医疗、刀具、航空航天等行业和高校研究院提供三维测量产品、解决方案及相关服务。