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精密仪器设计-光检测系统设计详解ppt
时间:2024-03-02 23:17 点击次数:157

  半导体激光器(LD),用半导体材料制成的面结型的二极管。 在使用半导体激光器时,应注意以下几点: (1)作为平行光照明时应用柱面镜将光束整形,再用准直镜准直; (2)频率稳定性。 LD光的单色性、相干性较差,因此用LD作相干光源且测量距离又较大时,必须对LD稳频。LD的稳频法主要有吸收法和电控法; (3)调频。 改变LD的注入电流 会使LD的输出频率产生的变化。如果注入电流是按某一频率变化规律来变化,那么输出的激光将被调频。这种调频是在LD内部实现的,故称为内调制。由此原理制成的半导体激光器可用于外差测量。 * 三、照明系统 照明对光学系统的成像质量起着非常重要的作用,照明的种类繁多,用途也非常广泛。 照明系统的设计原则 1)保证足够的光能。 2)有足够的照明范围,照明均匀。 3)照明光束应充满物镜的入瞳。 4)应尽量减少杂光进入物镜,以保证像面的对比度。 5)合理安排布局,避免光源高温的有害影响。 * 1. 直接照明:按照明方法分为透射光亮视场照明,反射光亮视场照明,透射光暗视场照明,反射光暗视场照明,分别如图a、b、c、d所示,图中阴影部分为照明光场。按光源类型分为白炽灯照明、光纤照明等。 直接照明四种类型 a)透射光亮视场照明 b)反射光亮视场照明 c)透射光暗视场照明 d)反射光暗视场照明 照明系统的种类 * * 精 密 仪 器 设 计 Design of Precision Instrument 测控技术与仪器研究所 自动化工程学院 * 光电精密检测系统设计 * 一、现代精密光电检测仪器特点 信息加载于光波,是一种非接触和非破坏性测量,可适用于远距离、危险、恶劣环境测量; 光波传播速度快,可进行实时测量和控制; 测量精度高,如激光干涉测量的精度可达1/100波长; 具有很高的空间分辨率; 可进行图像处理。 现代精密仪器:现代制造技术(光、机、电、算)、纳米技术、仿生学原理、新材料等。 光学精密机械系统 光电转换系统 电路处理系统 计算机控制系统 显示、打印系统 电机及驱动系统 信息获取与应用 信息处理、变换与显示 (1)光学精密机械系统 光学成像系统——物镜、光栏等; 照明系统——光源、滤镜等; 精密机械系统——X-Y精密工作台、微动工作台(Micro-table)、真空吸附台以及传动部件(如 Flexure Hinge)等。 二、典型精密仪器的基本组成 * (3) 电路处理与计算机控制 ——信息处理、变换与存储显示及模块控制等。 功放、A/D、D/A、 DSP、 FPGA、CPLD 、F/V I/O、LED、LCD等 。 (2) 光电转换与传递系统 ——CCD、摄像机、光电管(Phototube)、 硅光电池(Silicon photo-cell)、 光栅(Grating)、激光等。 二、典型精密仪器的基本组成 * (4)电机及驱动系统 电机——直流电机、交流电机、直线电机、力矩电机、音圈电机(Voice Coil Motor)、步进电机(Stepping Motor)、纳米电机(Nanomotion)等。 微位移技术中,采用致动器(Actuator)作为驱动源,如PZT、Electrostatic Force等。 ! 二、典型精密仪器的基本组成 * 被测对象 光学系统 光学系统 光电探测器 调理电路 光源 控制电路 计算机 显示与控制 作用:将光束变成平行光束、发散光束、会聚光束或其他形式结构的光束 作用:利用显微系统、照相系统、望远系统及调制器、滤波器将来自被测对象的光变成光电传感器能接收的光 二、典型精密仪器的基本组成 * 三、光学系统设计 光电探测器 光源 * 光电探测器 真空光电器件 固体光电器件 光电管 光电倍增管 真空摄像管 变像管 像增强管 光敏电阻 光电池 光电二极管 光电三极管 光电耦合器 光中断器 位置传感器PSD 自扫描光电二极管阵列SSPD 电荷耦合器件CCD 互补型金属氧化物半导体晶体管CMOS 3.1 分类 * 3.2 光电探测器的选择原则 探测器输出电信号大小与测量光信号大小的关系; 探测器的光谱响应范围与测量光信号的光谱范围是否一致; 探测器能探测的最小信号功率; 探测调制信号或脉冲光信号时,响应时间是否一致。 * 3.3 光源及照明系统 光电测量中,光是信息的载体,光源及照明系统的质量对光电测量往往起着关键的作用。含光源的特性、光源的种类、照明光学系统及光源选用等问题。 注:应用中宜采用发光效率高的光源以节省能源。 一、光源的基本参数 1.发光效率 在给定的波长范围内,某一光源所发出的光通量 与产生该光通量所需要的功率 之比,称为该光源的发光效率,表示为: 式中, 为该光电测量系统的光谱范围。 * 2.光谱功率谱分布 光源输出的功率与光谱有关,即与光的波长 有关,称为光谱的功率分布。常见的有四种典型的分布。 典型光源功率谱分布 a )线状光谱 b )带状光谱 c )连续光谱 d )复合光谱 a如低压汞灯光谱;b如高压汞灯光谱;c 如白炽灯、卤素灯光谱;d如荧光灯光谱。 注: 在选择光源的时候,应选择光谱功率分布的峰值波长与光电器件的灵敏波长相一致;目视测量,可选用可见光谱辐射比较丰富的光源;目视瞄准,宜选用绿光光源;彩色摄像应采用白炽灯、卤素灯作光源。紫外和红外测量,宜选用相应的紫外灯(氙灯、紫外汞灯)和红外灯。 * 3.空间光强分布特征 HG500发光二极管的配光曲线 由于光源发光的各向异性,许多光源的发光强度在各个方向是不同的。若在光源辐射光的空间某一截面上,将发光强度相同的点连线,就得到该光源在该截面的发光强度曲线,即配光曲线。 为提高光的利用率,一般选择发光强度高的方向作为照明方向。为了充分利用其他方向的光,可以用反光罩,反光罩的焦点应位于光源的发光中心。 * 任何物体,只要其温度在绝对零度以上,就向外界发出辐射,称为温度辐射。黑体是一种完全的温度辐射体,其辐射本领 表示为: 式中, 为辐射本领; 为吸收率,当 时的物体称为绝对黑体。 4.光源的温度和颜色 * 黑体的温度决定了它的光辐射特性。对于一般的光源,它的某些特征常用黑体辐射特征近似地表示,其温度常用色温或相关色温表示。 色温:辐射源发射光的颜色与黑体在某一温度下辐射光的颜色相同,则黑体的这一温度称为该辐射源的色温。 相关色温:光源的色坐标点与某一温度下的黑体辐射的色坐标点最近,则该黑体的温度称为该光源的相关色温。 注:在光电测量中为了减少光源温度对测量的影响,应采用冷光源或者设法减少热辐射的影响。 4.光源的温度和颜色 * 二、光电测量中的常用光源 物体温度大于绝对零度时就会向外辐射能量,辐射以光子形式进行,我们就会看到光。 1.太阳光: 太阳向地球辐射热我们称之为阳光。阳光是复色光,太阳光源是很好的平行光源。 2.白炽灯: 白炽灯靠灯泡中的钨丝被加热而发光,它发出连续光谱。发光特性稳定、简单、可靠、寿命比较长,得到广泛的应用。真空钨丝灯是将玻璃灯泡油成真空,充气灯泡是灯泡内充氩、氮等惰性气体,卤素灯是灯泡内充有卤族元素(氯化碘、溴化硼等)。 白炽灯的供电电压对灯的参数(电流、功率、寿命和光通量)有很大的影响,其关系如下所示: * 利用气体放电原理来发光的光源称为气体放电光源。 特点: 发光效率高,比白炽灯高2~10倍,可节省能源。 结构紧凑,耐震、耐冲击。 寿命长,大约是白炽灯的2~10倍,可节省能源。 光色范围大,如晋通高压汞灯发光波长大约为400~500nm, 低压汞灯则为紫外灯,钠灯呈黄色(589 nm),氙灯近日色,水银荧光灯为复色。 气体放电光源经常被用于工程照明和光电测量之中。 3.气体放电光源 * 在电场的作用下使半导体的电子与空穴复合而发光的器件称为半导体发光器件(注入式场致发光光源),通常称为LED。 半导体发光二级管 a)原理图 b)外观图 c)器件符号 4.半导体发光器件 * 常用发光二级管材料及性能如下表所示。 材料 光色 峰值波长 光谱光视效能 红 650 70 黄 589 450 绿 565 610 红外 910 红外 940 注:半导体发光二极管既是半导体器件也是发光器件,因此其工作参数有电学参数和光学参数。 * 能激发出激光并能实现激光的持续发射的器件称为激光器。 激光特点:单色性好,相干能力强,方向性好、亮度高,在光电测量中常用作相干光源。 激光器三大要素:激光工作物质,激励能源和光学谐振腔。 激光器分类:固体激光器、气体激光器和半导体激光器。 激励系统:光激励、电激励、核激励和化学反应激励等。 光学揩振腔用以提供光的反馈,以实现光的自激振荡,对弱光进行放大,并对振荡光束方向和频率进行限制,实现选频,保证光的单色性和方向性。 5.激光光源 * He-Ne气体激光器-----激光单色性和方向性好 在选择和使用He-Ne激光器时应注意以下几点: (1)激光模态。 在用He-Ne激光器作光电测量的光源时,一般都选用单模激光。观察激光输出的光斑形状发现,光斑形状较为复杂, 在光电测量中选用的激光光斑形状应为均匀的圆形光斑,即选TEM00横模。 激光的横模 a)TEM00模 b)TEM10模 c)TEM13模 d)TEM11模 * (2)功率。 光电测量中所用的He-Ne激光光源功率一般在几到十几mW。 (3)稳功率和稳频。 He-Ne激光器输出的功率变化较大,在精度较高的光电测量 中,应对He-Ne激光器稳功率。此外,在相干测量中光的波 长是测量基准,因此要求波长很稳定,即要采用稳频技术。 另,稳频对稳功率也有作用。 (4)激光束的漂移。 虽然He-Ne激光具有很好的方向性和单色性,但它也是有漂 移的,当作用精密尺寸测量和准直测量时尤应注意。 * *

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