在现代科技的发展中，几何量测量已经成为许多工程领域不可或缺的一部分。通过准确测量物体的形状、尺寸等几何属性，可以为产品设计、机械加工、工程测量等提供重要的依据。如何进行几何量测量以及如何选择合适的仪器？

　　几何量测量主要涉及到长度、角度、形状等几个方面，其中长度测量是最基本也是最常用的一种。长度测量的基本原理是利用测量仪器的刻度尺或测量传感器，通过对物体两个端点之间的距离进行测量，从而确定物体的长度。而角度测量则是通过测量物体之间的夹角来确定物体的角度。形状测量则是通过测量物体表面的曲率、弯曲程度等指标，来描述物体的形状特征。

　　传统的几何量测量仪器包括千分尺、角度尺、游标卡尺等，这些仪器能够满足一般的几何量测量需求。但是随着科技的发展，越来越多高精度测量仪器被应用于几何量测量领域。从纳米级光学3D表面轮廓仪通过光学原理测量物体的三维形状，到百米级激光跟踪仪高精度（μm级）、大工作空间（百米级）的坐标和空间姿态测量，大大提高了几何量测量的精度和效率：

　　SuperViewW系列光学3D表面轮廓仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，从0.1nm级别的超光滑表面到数十微米级别的粗糙度表面，仪器均能实现高精度测量。

　　MarsClassic系列三坐标是国产三坐标测量机，控制器、测头测座、软件全自主研发，安全可控。最大允许示值误差（1.5+L/350）μm，测量行程从5

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